Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
الكاتب: Debashis Bhattacharya، John P Hayes
تصنيف: زراعة و حيوان / زراعة عامة
الناشر: Springer
السّنة: 2011-09-26
ردمك: 9781461288190
السّعر (USD): 46.0
يَوْمَ نَطْوِي السَّمَاءَ كَطَيِّ السِّجِلِّ لِلْكُتُبِ
📚 فهرس عناوين مكتبة نيل و فرات - رجب 1446/جانفي 2025الكاتب: Debashis Bhattacharya، John P Hayes
تصنيف: زراعة و حيوان / زراعة عامة
الناشر: Springer
السّنة: 2011-09-26
ردمك: 9781461288190
السّعر (USD): 46.0